更小,更快,更薄

MicronX系統(tǒng)是專門為靈活應用設計的強有力的測量工具。使用Thermo獨創(chuàng)的， 技術的硬件和軟件， MicronX系統(tǒng)能夠比其它EDXRF儀器測量更小的面積， 更薄的鍍層并且更快。 MicronX系統(tǒng)能夠接受多的金屬薄膜測量的挑戰(zhàn)。

X-射線能譜技術方面幾十年的經(jīng)驗帶來了微束X-射線熒光的幾點創(chuàng)新：

激發(fā)光束的光學準直器可以獲得一束特別明亮的的微束X-射線照在樣品表面

靈活和精密的樣品定位

新的X-射線檢測技術

綜合， 易用的操作界面和應用軟件

X-射線束準直

光學準直

這一革命性的技術發(fā)出小至 20微米， 強度和精度為傳統(tǒng)儀器的1000倍。 強度的增加可以減少測量時間—比機械準直快100倍并且精度提高10倍。 光學準直對微束應用是極為重要的， 因為高精度和快速對它是基本的。

精密樣品定位

伺服驅動的樣品臺

為了高精度的樣品定位，MicronX系統(tǒng)采用線性編碼伺服驅動的X-Y-Z樣品臺。 定位精度可以達到+/-5或+/-2微米。

硅片樣品臺有適合于125 mm至300 mm大小硅片的許多插板選購件， 樣品臺的行程能達到300 mm硅片的任何一點。

的真空環(huán)境

Thermo的真空導管技術包括X-射線束發(fā)生和檢測系統(tǒng)， 而樣品在空氣中。 這種獨有的設計創(chuàng)造了一種和樣品室全部抽真空可以比擬的分辨率和靈敏度， 而且樣品操作快速， 方便。

X-射線檢測

MicronX有一整套X-射線檢測技術，用戶可以根據(jù)自己的應用選擇合適的檢測器。

除了正比計數(shù)管和PIN二極管檢測器以外， MicronX能配置我們獨有的電致冷Si(Li)檢測器或硅漂(SD)檢測器。 這些檢測器均有極好的分辨率和靈敏度， 適合于：

很薄的薄膜應用

高精度要求

成份復雜， 有重疊峰的多元素或合金

Si(Li)檢測器

鋰漂移硅[Si(Li)] 檢測器為很薄的薄膜應用提供高的分辨率和靈敏度。 數(shù)字式信號處理和Si(Li)檢測器技術保證了高的計數(shù)率通量。 無液氮的方便。

硅漂(SD)檢測器

硅漂檢測器技術和數(shù)字式脈處理電子學系統(tǒng)提供了高的計數(shù)率通量， 而高計數(shù)率通量可以縮短測量時間和提高精度達3倍。

MicronX 設計的有如下特點：

精密的光學系統(tǒng)

變焦， 激光輔助聚焦， 和計算機發(fā)生的十字線能對極小的部件和結構精密定位。

應用界面的設計者

用戶可用圖標板創(chuàng)建的應用界面。

報告樣板

創(chuàng)建用戶的報告格式或者摁一鍵選用一種的質量報告。

XYZ樣品臺和2M/3M分布圖

可編程選項和部件固定的自動成批測量。

圖案識別

自動快速和。

統(tǒng)計工具

包括平均值， 標準偏差， 百分偏差，Pp/Ppk， Min/Max， 直方圖, 趨勢線，和R-圖。 可將數(shù)據(jù)傳入Excel和其它程序。

部件號編碼

可選用部件號或工號為應用編碼。

操作界面

精密