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天瑞儀器有限公司生產(chǎn)的鍍鎳設(shè)備x光鍍層測(cè)試儀適用于電鍍檢驗(yàn)行業(yè)的上述五項(xiàng)要求:
(1)可以準(zhǔn)確分析鍍膜厚度的檢測(cè)和電鍍液的分析;
(2)可快速檢測(cè)RoHS有害元素檢測(cè)、重金屬檢測(cè)、槽液雜質(zhì)檢測(cè)和在線水質(zhì)監(jiān)測(cè),檢測(cè)環(huán)境中重金屬是否標(biāo)。
同時(shí),它具有以下特點(diǎn)。
快速:1分鐘可測(cè)量樣品涂層厚度,滿足測(cè)量要求。
方便性:部分型號(hào)的X射線熒光光譜儀采用了上較早進(jìn)口的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器,能量分辨率優(yōu)于135eV,測(cè)試更高。此外,制冷和定期補(bǔ)充不需要液氮,操作和使用更加方便,運(yùn)行成本低于其他同類產(chǎn)品。
無(wú)損:測(cè)試前后,樣品沒(méi)有任何形式的變化。
直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可以直觀顯示元素內(nèi)容。
測(cè)試范圍廣:X射線熒光光譜儀是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)?;瘜W(xué)性質(zhì)上屬于同一科的元素也可以分析,抽真空可以測(cè)試從Na到u。
可靠性高:由于測(cè)試過(guò)程中沒(méi)有人為因素的干擾,儀器本身具有很高的分析性、重復(fù)性和穩(wěn)定性。因此,測(cè)量可靠性更高。
滿足不同要求:測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作簡(jiǎn)單,功能強(qiáng)大。軟件可以監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)置儀器參數(shù),有很多的分析方法。工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶、不同樣品的檢測(cè)需求。
高:與化學(xué)分析儀器相比,X射線熒光光譜儀在整體使用成本上具有優(yōu)勢(shì),可以被更多的企業(yè)和廠家所接受。
簡(jiǎn)單:對(duì)人員技術(shù)要求低,操作維護(hù)簡(jiǎn)便。
性能特征:
滿足不同厚度和不規(guī)則表面樣品的測(cè)試要求。
直徑為φ0.1mm的孔徑準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需要。
高移動(dòng)平臺(tái)可以定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位小于0.005mm。
高度定位激光可以自動(dòng)定位測(cè)試高度。
定位激光確定定位點(diǎn),以確保測(cè)試點(diǎn)與點(diǎn)對(duì)齊。
鼠標(biāo)可以控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)。
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確。
射線屏蔽效果好。
測(cè)試端口高度靈敏度的傳感器保護(hù)。
技術(shù)指標(biāo)。
類型:Thick800A。
元素分析范圍從硫到鈾。
同時(shí)可以分析30多種元素和5種涂料。
分析含量一般為ppm至99.9%。
涂層厚度一般小于50μm(每種材料不同)
任意數(shù)量的可選分析和識(shí)別模型。
獨(dú)立矩陣效應(yīng)校正模型。
多變量非線性恢復(fù)程序
適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源:交流220V±5v,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸:576(w)×495(d)×545(h)mm。
樣品室尺寸:500(w)×350(d)×140(h)mm。
重量:90kg。
標(biāo)準(zhǔn)配置。
打開(kāi)樣品室。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)、探測(cè)器、X射線管可上下移動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃盾牌。
光譜涂層測(cè)厚儀硅針探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
x射線管。
高度傳感器。
保護(hù)傳感器。
電腦和噴墨打印機(jī)。
應(yīng)用領(lǐng)域。
金、鉑、銀等貴金屬及各種首飾的測(cè)定。
金屬鍍層厚度的測(cè)量,電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
光譜鍍層測(cè)厚儀原廠價(jià)格主要用于貴金屬加工和珠寶加工行業(yè);銀行、珠寶銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
測(cè)試用例。
鍍鎳裝置是一種常見(jiàn)的電鍍裝置,其鍍鎳層不僅可以保護(hù)銅基體免受氧化,還可以起到美觀的作用。這里以客戶提供的鍍銅鍍鎳樣品為例,說(shuō)明該儀器的測(cè)試效果。
在下文中,使用Thick800A儀器在鍍銅-鎳樣品上實(shí)際測(cè)試了鎳層的厚度,獲得了七次標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。并能對(duì)樣品進(jìn)行定位測(cè)試,測(cè)試位置如圖所示。