ENTECH反射儀-RM 2000 
SENTECH RM 2000反射儀能夠在UV-VIS-NIR光譜范圍對(duì)單層膜、多層膜和基底材料進(jìn)行高精度反射光譜測(cè)量。可對(duì)吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析薄膜厚度和折射率.

特性： 
?高精度測(cè)量反射光譜, 非接觸、正入射測(cè)量 
?寬光譜范圍， 200nm-930nm  （UV-VIS-NIR） 
?可測(cè)量反射率R, 薄膜厚度， 折射率 
?FTP expert分析軟件，用于測(cè)量薄膜光學(xué)常數(shù)。 
?測(cè)量半導(dǎo)體膜的材料組分（例如： AlGaN on GaN) 
?分析外延生長(zhǎng)多層膜

選項(xiàng)：
?深紫外擴(kuò)展 (200 nm) 
?近紅外擴(kuò)展 (1700 nm) 
?x-y 地貌圖掃描樣品臺(tái)和掃描軟件
?攝像頭選項(xiàng)，用于觀測(cè)樣品表面
?電腦  
技術(shù)指標(biāo)：